SWTest – כנס בדיקת גביעי חומרים נדיפים לשנת 2027
כנס בדיקת גביעי חומרים נדיפים (Semiconductor Wafer Test Conference – SWTest) הוא האירוע התעשייתי היחיד שמתקיים לאורך זמן, והוא מתמקד בכל ההיבטים של בדיקות גביעי חומרים נדיפים ברמה המיקרו-אלקטרונית. האירוע של שנת 2027 יתקיים בין יום שני, ה-7 ביוני, לבין יום רביעי, ה-9 ביוני, במלון Omni La Costa Resort & Spa בקרלסבאד, קליפורניה.
התוכנית כוללת כנס טכני שנמשך שני ימים וחצי. ביום הראשון מתקיים נאום ממלכתי, לאחר מכן מתקיימות דיונים בנושאים שונים, והוצגו תצוגות של פוסטרים במהלך הפסקות. בנוסף, יש גם פלטפורמה להצגת מוצרים. פעילויות חברתיות, חיבורים לא רשמיים וטורניר גולף ביום ראשון משלימים את האירוע.
SWTest נערך כבר יותר מ-35 שנה, והוא מתקיים כפורום טכנולוגי שבו המשתתפים חולקים רעיונות לגבי ההתפתחויות האחרונות בתעשייה. הרשמה לכנס של שנת 2027 צפויה להיפתח באופן מקוון בפברואר 2027; האתר הרשמי של הכנס פרסם מידע על התוכניות, המלונות וחברות ההובלה של הכנס.
רוצים להירשם לקבלת פרסים או להשתתף בחלוקה של פרסים? ראו את ההרשמות המתאימות.
מפת המקום והמלונות השונים שנמצאים בסביבה
קרלסבאד – אומני לא קוסטה ריזורט אנד ספה, קליפורניה, ארצות הברית